Rasterkraftmikroskop
Englisch: atomic force microscope, AFM
Definition
Das Rasterkraftmikroskop ist ein Gerät, das zur mechanischen Abrasterung von Oberflächen dient. Dabei können alle möglichen biologischen Proben wie z.B. DNA, (Membran-) Proteine, lebende Zellen und Zellmembranen strukturell untersucht werden.
Hintergrund
Das erste Rasterkraftmikroskop wurde im Jahre 1986 von Gerd Binning, Christoph Gerber und Calvin Quate gebaut. Zur Oberflächenabrasterung wird eine Spitze, die an einen Cantilever angebracht ist, verwendet. Dabei schwingt der Cantilever wie eine Blattfeder entsprechend dem Hook'schen Gesetz. Damit die exakte Bewegung der Spitze gewährleistet ist, werden Piezoelemente verwendet. Das Mikroskop ist mit einen Steuerungssystem ausgerüstet, das den Druck der Spitze auf die Probe reguliert.