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Rasterkraftmikroskop

Englisch: atomic force microscope, AFM

1 Definition

Das Rasterkraftmikroskop ist ein Gerät, das zur mechanischen Abrasterung von Oberflächen dient. Dabei können alle möglichen biologischen Proben wie z.B. DNA, (Membran-) Proteine, lebende Zellen und Zellmembranen strukturell untersucht werden.

2 Hintergrund

Das erste Rasterkraftmikroskop wurde im Jahre 1986 von Gerd Binning, Christoph Gerber und Calvin Quate gebaut. Zur Oberflächenabrasterung wird eine Spitze, die an einen Cantilever angebracht ist, verwendet. Dabei schwingt der Cantilever wie eine Blattfeder entsprechend dem Hook'schen Gesetz. Damit die exakte Bewegung der Spitze gewährleistet ist, werden Piezoelemente verwendet. Das Mikroskop ist mit einen Steuerungssystem ausgerüstet, das den Druck der Spitze auf die Probe reguliert.

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Fachgebiete: Physik

Diese Seite wurde zuletzt am 17. August 2015 um 16:36 Uhr bearbeitet.

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